我國(guó)首次建立基于硅晶格常數(shù)溯源的集成電路納米線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
鈦媒體App 9月13日消息,中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院的納米線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制團(tuán)隊(duì),以國(guó)際計(jì)量局規(guī)定的國(guó)際單位制米定義復(fù)現(xiàn)方法——硅晶格{220}方向尺寸(0.192nm)為基礎(chǔ),采用內(nèi)稟硅晶格原子標(biāo)尺的線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)設(shè)計(jì)方案,實(shí)現(xiàn)對(duì)線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的原子級(jí)準(zhǔn)確度(<1nm)計(jì)量溯源,突破了現(xiàn)有波長(zhǎng)計(jì)量基準(zhǔn)(633nm)溯源方式對(duì)線(xiàn)寬測(cè)量的5nm不確定度水平極限,成功研制了與集成電路關(guān)鍵制程節(jié)點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的7nm、22nm、45nm的線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),不確定度水平處在0.32~1.3nm,初步構(gòu)建了基于硅晶格常數(shù)溯源的集成電路高準(zhǔn)確度納米線(xiàn)寬計(jì)量溯源體系,為保障集成電路與原子級(jí)制造幾何量值的準(zhǔn)確性奠定了堅(jiān)實(shí)計(jì)量基礎(chǔ)。 (央視新聞)
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